Sondas de prueba para semiconductores
Con técnicas de fabricación avanzadas y una dedicación a la precisión.
Ofrecemos sondas de prueba de semiconductores que cumplen con los altos estándares en diversas industrias.
XURUI
I Rango de aplicación más alto: –55 °C a 180 °C
I Altas frecuencias hasta 100 GHz
I Mantenimiento y reparación fáciles de usar
I Máximo rendimiento más máximo tiempo de funcionamiento
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Detalle del producto de sondas de prueba para semiconductores
Nuestras sondas de contacto también se utilizan en pruebas de obleas. Garantizan un contacto preciso desde el interior del cabezal de prueba de una tarjeta de sonda para maximizar el rendimiento.
Ofrecemos una amplia gama de sondas de contacto para realizar pruebas. Estas sondas de contacto se utilizan en zócalos donde los chips semiconductores se someten a diversas pruebas. Descubra la precisión en las dimensiones más pequeñas.
Los sensores son componentes extremadamente pequeños, por lo que los pasos pequeños son un requisito fundamental. Consiga pruebas confiables de estos sensores con nuestra gama de sondas de contacto. Simplemente haga clic a continuación para explorar nuestra gama.
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Guía de selección de sondas de prueba para semiconductores
| ----------Product image---------- | Current Rating | Rated Resistance | Full Stroke | Rated Stroke | Spring Force | Bandwidth | Mechanical Life Exceeds | PDF Download | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DP020-xx-57-0.3GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 8±2gf@load 0.65mm(0.3oz) | -1dB@6.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP021-xx-57-0.3GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 8±2gf@load 0.65mm(0.3oz) | -1dB@6.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP026-xx-57-0.5GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 14±3gf@load 0.65mm(0.5oz) | -1dB@6.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP028-xx-57-0.6GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.7mm | 20±5gf@load 0.7mm(0.6oz) | -1dB@6.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP030-xx-57-0.35GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 10±5gf@load 0.65mm(0.35oz) | -1dB@6.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP031-xx-57-0.7GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 20±5gf@load 0.65mm(0.7oz) | -1dB@6.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP035-xx-57-0.85GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 24±5gf@load 0.65mm(0.85oz) | -1dB@7.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP035-xx-86-0.8GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.8mm | 23±5gf@load 0.80mm(0.8oz) | -1dB@8.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-57-0.4GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 11±3gf@load 0.65mm(0.4oz) | -1dB@7.1GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-57-1.1GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±6gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@7.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-63-0.85GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.80mm | 24±5gf@load 0.80mm(0.85oz) | -1dB@7.1GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-57-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 20±5gf@load 0.65mm(0.7oz) | -1dB@7.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-61-1.2GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.95mm | 34±8gf@load 0.95mm(1.2oz) | -1dB@7.3GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-63-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 20±4gf@load 1.00mm(0.7oz) | -1dB@7.3GHZ | 100000 cycles |
|
| DP057-xx-31-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 0.60mm | 0.48mm | 30±6gf@load 0.48mm(1.1oz) | -1dB@8.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP058-xx-57-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±5gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@8.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP058-xx-63-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.85mm | 30±6gf@load 0.85mm(1.1oz) | -1dB@8.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP078-xx-57-0.9GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 0.80mm | 26±5gf@load 0.80mm(0.9oz) | -1dB@10.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP078-xx-63-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 0.80mm | 35±7gf@load 0.80mm(1.2oz) | -1dB@10.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP085-xx-57-1.1GG(BB) |
|
2A | 50 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±6gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@11.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP100-xx-131-3.5GG(BB) |
|
2A | 50 milliohm max | 3.10mm | 2.00mm | 100±30gf@load 2.00mm(3.5oz) | -1dB@13.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DQ031-xx-33-0.9GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 0.55mm | 0.45mm | 26±5gf@load 0.45mm(0.9oz) | -1dB@13.0GHZ | 100000 cycles |
|
| DE058-xx-88-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.20mm | 0.80mm | 35±7gf@load 0.80mm(1.2oz) | -1dB@12.0GHZ | 100000 cycles |
|
| DE078-xx-88-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 35±7gf@load 1.00mm(1.2oz) | -1dB@6.0GHZ | 100000 cycles |
|
| HDE065-xx-113-1.6GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.70mm | 1.10mm | 45±9gf@load 1.10mm(1.6oz) | -1dB@10.3GHZ | 100000 cycles |
|
| HDE052-xx-63-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 20±4gf@load 1.00mm(0.7oz) | -1dB@6.0GHZ | 100000 cycles |
|
Soluciones de sondas de prueba para semiconductores
Nuestros productos garantizan la máxima calidad en la producción de semiconductores.
Nuestras tecnologías de prueba personalizadas y de vanguardia sirven como soluciones para numerosas aplicaciones.
