Halbleiter-Testsonden
Mit fortschrittlichen Fertigungstechniken und einem Streben nach Präzision
Wir bieten Halbleiterprüfsonden, die den hohen Standards unterschiedlichster Branchen gerecht werden.
XURUI
I Höchster Einsatzbereich: –55°C bis 180°C
I Hohe Frequenzen bis 100 GHz
I Benutzerfreundliche Wartung & Reparatur
I Maximale Leistung plus maximale Betriebszeit
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Halbleiter-Testsonden – Produktdetails
Unsere Kontaktsonden werden auch beim Wafertesten verwendet. Sie gewährleisten einen präzisen Kontakt innerhalb des Testkopfs einer Probe Card, um Ihren Durchsatz zu maximieren.
Wir bieten eine große Auswahl an Kontaktsonden zum Testen an. Diese Kontaktsonden werden in Sockeln verwendet, in denen Halbleiterchips verschiedenen Tests unterzogen werden. Entdecken Sie Präzision in kleinsten Dimensionen.
Sensoren sind extrem kleine Komponenten, weshalb kleine Abstände eine grundlegende Voraussetzung sind. Mit unserem Portfolio an Kontaktsonden können Sie diese Sensoren zuverlässig testen. Klicken Sie einfach unten, um unser Portfolio zu durchsuchen.
XURUI
Auswahlhilfe für Halbleiterprüfspitzen
| ----------Product image---------- | Current Rating | Rated Resistance | Full Stroke | Rated Stroke | Spring Force | Bandwidth | Mechanical Life Exceeds | PDF Download | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DP020-xx-57-0.3GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 8±2gf@load 0.65mm(0.3oz) | -1dB@6.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP021-xx-57-0.3GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 8±2gf@load 0.65mm(0.3oz) | -1dB@6.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP026-xx-57-0.5GG(SS) |
|
0.5A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 14±3gf@load 0.65mm(0.5oz) | -1dB@6.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP028-xx-57-0.6GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.7mm | 20±5gf@load 0.7mm(0.6oz) | -1dB@6.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP030-xx-57-0.35GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 10±5gf@load 0.65mm(0.35oz) | -1dB@6.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP031-xx-57-0.7GG(SS) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 20±5gf@load 0.65mm(0.7oz) | -1dB@6.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP035-xx-57-0.85GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 24±5gf@load 0.65mm(0.85oz) | -1dB@7.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP035-xx-86-0.8GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.8mm | 23±5gf@load 0.80mm(0.8oz) | -1dB@8.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-57-0.4GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 11±3gf@load 0.65mm(0.4oz) | -1dB@7.1GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-57-1.1GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±6gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@7.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP038-xx-63-0.85GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.80mm | 24±5gf@load 0.80mm(0.85oz) | -1dB@7.1GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-57-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 20±5gf@load 0.65mm(0.7oz) | -1dB@7.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-61-1.2GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.95mm | 34±8gf@load 0.95mm(1.2oz) | -1dB@7.3GHZ | 100000 cycles |
|
| DP051-xx-63-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 20±4gf@load 1.00mm(0.7oz) | -1dB@7.3GHZ | 100000 cycles |
|
| DP057-xx-31-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 0.60mm | 0.48mm | 30±6gf@load 0.48mm(1.1oz) | -1dB@8.7GHZ | 100000 cycles |
|
| DP058-xx-57-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±5gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@8.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP058-xx-63-1.1GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.30mm | 0.85mm | 30±6gf@load 0.85mm(1.1oz) | -1dB@8.8GHZ | 100000 cycles |
|
| DP078-xx-57-0.9GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 0.80mm | 26±5gf@load 0.80mm(0.9oz) | -1dB@10.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP078-xx-63-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 0.80mm | 35±7gf@load 0.80mm(1.2oz) | -1dB@10.2GHZ | 100000 cycles |
|
| DP085-xx-57-1.1GG(BB) |
|
2A | 50 milliohm max | 1.10mm | 0.65mm | 30±6gf@load 0.65mm(1.1oz) | -1dB@11.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DP100-xx-131-3.5GG(BB) |
|
2A | 50 milliohm max | 3.10mm | 2.00mm | 100±30gf@load 2.00mm(3.5oz) | -1dB@13.5GHZ | 100000 cycles |
|
| DQ031-xx-33-0.9GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 0.55mm | 0.45mm | 26±5gf@load 0.45mm(0.9oz) | -1dB@13.0GHZ | 100000 cycles |
|
| DE058-xx-88-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.20mm | 0.80mm | 35±7gf@load 0.80mm(1.2oz) | -1dB@12.0GHZ | 100000 cycles |
|
| DE078-xx-88-1.2GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 35±7gf@load 1.00mm(1.2oz) | -1dB@6.0GHZ | 100000 cycles |
|
| HDE065-xx-113-1.6GG(BB) |
|
2A | 100 milliohm max | 1.70mm | 1.10mm | 45±9gf@load 1.10mm(1.6oz) | -1dB@10.3GHZ | 100000 cycles |
|
| HDE052-xx-63-0.7GG(BB) |
|
1A | 100 milliohm max | 1.50mm | 1.00mm | 20±4gf@load 1.00mm(0.7oz) | -1dB@6.0GHZ | 100000 cycles |
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Lösungen für Halbleiterprüfspitzen
Unsere Produkte garantieren höchste Qualität in der Halbleiterproduktion.
Unsere hochmodernen, maßgeschneiderten Testtechnologien dienen als Lösungen für zahlreiche Anwendungen
